技术白皮书及应用说明

• 使用 B2985A/87A 执行可靠的高电阻测量
  超低电流测量极易受到各种环境因素的影响。造成误差的来源通常有: 泄漏电流、放电电流或吸收电流、测试设备接地/浮置问题，以及测试设备物理结构所产生的环境噪声等等。是德科技静电计/高阻计 (B2985A/B2987A) 可以提供出色的 10 aA (0.01 fA)最小电流分辨率、10 PΩ (1016 Ω) 电阻测量功能，及其他许多功能特性，例如直方图和趋势图视图、直观的测量导航，因此能够显著增强用户的测量信心。

  时间：2019-05-09
• 使用 B2985A/87A 进行绝缘材料电阻率的测量
  Keysight B2985A 和 B2987A 静电计/高阻表通过在前面板上提供精确的电 阻或电流随时间的变化信息，简化了绝缘材料表面电阻率和体积电阻率的 表征。您可用 Keysight 16008B 电阻盒对薄膜或片状材料的表面电阻率或体积电 阻率进行测量，还能用定制的电阻率测量夹具来测量其他形状的样品。

  时间：2019-05-09
• 使用 B2900A 系列 SMU 对激光二极管执行 LIV 测试
  LIV(光强-电流-电压)扫描测试是一项用以确定 LD(激光二极管)工作特征的基础测 量。在 LIV 测试中，通常会用 PD(光电探测器)对施加到 LD上的电流进行扫描，并且测 量辐射光的强度。B2900A SMU是结构紧凑、经济高效的台式 SMU， 能够输出及测量电压和电源。它们覆盖 10 fA 至 3 A(直流)/10.5 A(脉冲)的电流范围 和 100 nV 至 210 V 的电压范围，使您能够比以往更精确、更快速地执行广泛的电流-电压 (IV)测量。

  时间：2019-05-07
• 使用 Keysight B2900A 系列 SMU 执行快速 fT-Ic 测量
  截止频率 (fT) 是一个获知双极晶体管工作频率范围的重要参数。要想测量 fT，必须使用直流偏置将晶体管置于正确的工作点，同时使用网络分析仪测量其频率特性。Keysight B2900A 精密电源/测量单元作为结构紧凑、经济高效的台式电源/测量单 元 (SMU)，能够以非常合理的价格提供精密电源和测量功能。

  时间：2019-05-07
• 利用 B2900A 系列 SMU 对双极晶体管进行表征
  Keysight B2900A 精密电源/测量单元结构紧凑、经济高效的台式 SMU，能够输出及 测量电压和电源。它们覆盖 10 fA 至 3 A(直流)/10.5 A(脉冲) 的电流范围和 100 nV 至 210 V 的电压范围，使您能够比以往更精确、更快速地执行广泛的电流-电压(IV)测量。

  时间：2019-05-07
• 利用 B2900A 系列 SMU 执行电阻测量
  进行精确的电阻测量是测量学中一个更具挑战性的领域。有许多因素会 影响电阻测量的精度，包括测试引线的残余电阻、热电势和测量路径中的泄漏电 流。B2900A 系列 SMU 具备许多特性可对这些问题进行测量，包括远程检测(4 线连接)、偏压补偿和隔离措施。本应用指南将对上述问题做出详细描述。

  时间：2019-05-07
• 白皮书：选择耐用微波/射频电缆组件，确保长期可靠性能的关键指标
  最近的一项研究表明，用户期待微波射频电缆组件优质耐用；然而，超过75%的用户却要经常更换其组件，造成这些组件失效的最常见原 因是安装或运行期间的损坏问题。根据电缆组件更换的频率，一台设备在其系统有效使用期内因此产生的直接成本最高达到250,000美元，而且这尚未计入因生产计划延误、劣质产品或重新测试和校准等问题所造成的间接成本。 戈尔公司对多款标称铠装结构且规格相似的18GHz微波/射频电缆组件进行耐用性及长期性能评估。

  时间：2019-04-22
• 基于光纤激光器的啁啾脉冲放大激光系统白皮书（英文）
  讨论Calmar Laser高脉冲能量激光器的性能和使用，如 Cazadero 产品线。

  时间：2019-04-19
• 技术说明：GORE PHASEFLEX 微波射频测试电缆组件— 0N型电缆， 高密度测试互联应用
  戈尔最新的高密度测试互联组件，设立了行业的新标准，不仅 适用于高密度、多端口射频和微波模块化仪表应用，而且适用 于对测试线缆柔性和线径有要求的高速数字测试。

  时间：2019-04-17